PLC——低成本的Wafer Mapping方案
推出了【PLC KV-8000系列+光纤传感器】的低成本解决方案：
ü PLC+光纤传感器即可完成全自动检测，成本较低；
ü PLC准确读取传感器检测光量值，通过积分、滤波算法 （已封装完成），可以有效地识别斜片、弯片、叠片、空片等情况，容错率高；
ü 产品更换时，无需每个传感器分别设定，PLC可以直接修改传感器参数
低成本的Wafer Mapping解决方案已经成功应用于多家半导体企业，并获得了广泛的好评。
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