PLC——低成本的Wafer Mapping方案
推出了【PLC KV-8000系列+光纤传感器】的低成本解决方案:
ü PLC+光纤传感器即可完成全自动检测,成本较低;
ü PLC准确读取传感器检测光量值,通过积分、滤波算法 (已封装完成),可以有效地识别斜片、弯片、叠片、空片等情况,容错率高;
ü 产品更换时,无需每个传感器分别设定,PLC可以直接修改传感器参数
低成本的Wafer Mapping解决方案已经成功应用于多家半导体企业,并获得了广泛的好评。
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