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直播 | 氙离子PFIB-SEM赋能纳米级分析毫米级页岩,且快且细

来源:泰思肯贸易(上海)有限公司      分类:维修保养 2024-06-03 11:30:15 230阅读次数

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TESCAN 材料科学 双束电镜

氙离子 PFIB-SEM 赋能
纳米级分析毫米级页岩,
且快且细

Annalena Wolff 

澳大利亚 · 悉尼 · AXT有限公司 

2024年6月13日(周四)下午3:00

你是否在大样本分析时遇到种种技术限制而苦苦挣扎?我们明白的。传统镓离子 FIB-SEM的材料去除率太低,不足以应对当今材料科学的挑战。但如果有项技术能够在保持高分辨率(纳米级)分析的同时,又能对较大尺寸(毫米级)的岩石样本进行快速制样呢?

诚邀您参加此次网络研讨会,我们将为您揭开创新氙离子 PFIB/SEM 技术对毫米级样本纳米级分析能力的层层面纱。

此次TESCAN特邀澳大利亚AXT公司FIB-SEM专家 Annalena Wolff 做报告。




内容预告



解读页岩的复杂性

我们将揭示分析这种复杂、非均质岩石的挑战,以及传统的镓离子 FIB-SEM 在此应用中的技术限制。


介绍 氙离子 PFIB 技术

了解这项创新技术在移除大量材料的速度究竟有多快,使研究人员在进行材料分析时有更多的选择和控制能力。


掌握页岩样品制备的艺术

深入探讨制备毫米级横截面的秘密,并掌握特定观察点或特定区域的岩石分析。


当与样品的传统截面抛光效果相比时,氙离子 PFIB/SEM的实力立马显现。

我们热情邀请您加入这次现场演示,使用这项技术打造材料科学、制造和地质学的未来吧!



info.tescan.com/matsci-fib-sem


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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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