技术文章

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  直播 | 氙离子PFIB-SEM赋能纳米级分析毫米级页岩，且快且细

  6月13日下午3点，为您演示 TESCAN Xe PFIB/SEM 技术对毫米级页岩样品制备和纳米级分析的实力。

  维修保养

  更新时间：2024-06-03 11:30:15  游览次数：219

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  在100kV下 TESCAN TENSOR 对厚密样本的 4D-STEM 分析

  本篇技术说明为您解答 TESCAN TENSOR 在 100 kV 加速电压下的性能。

  产品评测

  更新时间：2024-05-28 09:45:12  游览次数：181

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  眼见为实 | 扫描透射电镜也可以轻松定位样品和快速BF/DF成像

  在扫描透射电子显微镜（STEM）时，您是否曾在定位样品或如何获得最佳图像质量时遇到困难？

  操作使用

  更新时间：2024-05-28 09:45:12  游览次数：75

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  在100kV下 TESCAN TENSOR 对厚密样本的 4D-STEM 分析性能

  本篇技术说明为您解答 TESCAN TENSOR 在 100 kV 加速电压下的性能。

  选购指南

  更新时间：2024-05-25 10:15:09  游览次数：109

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  邀请函 | TESCAN与您相聚深圳国际半导体展一起慧创未来

  我在TESCAN展台（10T060，10号馆）准备了TESCAN半导体封装检测失效分析解决方案，期待与您分享。

  产品评测

  更新时间：2024-05-15 11:00:12  游览次数：99

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  会议提醒 | 用电子显微镜和X射线微CT揭示电池创新

  今晚10点，未注册无回看，先点上！前沿技术不错过。

  选购指南

  更新时间：2024-04-26 09:45:06  游览次数：62

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  眼见为实 | 扫描透射电镜也可以轻松定位样品和快速BF/DF成像

  在扫描透射电子显微镜（STEM）时，您是否曾在定位样品或如何获得最佳图像质量时遇到困难？

  操作使用

  更新时间：2024-04-24 10:00:09  游览次数：62

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  Wiley分析科学直播 | 用电子显微镜和X射线显微CT揭示电池创新

  4月25日22:00 专家汇聚，用先进技术揭秘电池材料，为电池开发解锁重要见解。邀您参与！

  科技文献

  更新时间：2024-04-17 10:00:10  游览次数：47

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  天下武功唯快不破！展望失效分析的未来：大体积工作流程

  TESCAN大体积工作流程那么快，为毫米级半导体失效分析加速。

  产品评测

  更新时间：2024-04-12 11:30:06  游览次数：73

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  西南交通大学吴圣川团队顶刊：原位三维成像表征超高温下C/SiC失效机理

  通过高时空分辨原位三维成像表征可获得对高温环境诱导裂纹/孔隙缺陷闭合/收缩、裂纹扩展及偏转、纤维氧化失效和自愈合现象的量化直观描述，是基于微结构特征建立更为准确可靠宏观力学性能评价方法的实验方法基础。

  应用方案

  更新时间：2024-04-11 10:15:10  游览次数：72

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  邀请函 | 亚科电子搭载TESCAN半导体封装失效分析方案奔赴 SEMICON CHINA 2024

  来亚科电子展台（N2431, N2馆）了解TESCAN半导体封装检测失效分析解决方案吧。

  产品评测

  更新时间：2024-03-07 09:45:09  游览次数：94

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  TESCAN&科学指南针，九年坚定，迎接新的起航！

  TESCAN祝科学指南针九周年生日快乐！

  工作原理

  更新时间：2023-12-22 14:45:04  游览次数：96