应用 | 关于可拉伸性的石墨烯半导体超疏水涂层的研究
机翼是飞机的重要组成部分,但在低温环境下表面很容易受到积冰的影响。超疏水性涂层是理想的防冰材料,超疏水性材料可以推迟冰晶的形成或降低冰粘附强度,但现有涂层存在机械性能差、性能参数自然衰老快等问题。
目前的除冰技术主要分为主动除冰法和被动除冰法两类。与主动除冰法相比,被动法试图在没有额外能 量消耗的情况下防止冰层的积累。一种典型的无能源消耗方法是构造超疏水性表面。超疏水 效应的灵感来自于荷叶。众所周知,荷叶上的水滴几乎呈球状,很容易脱落。因此,超疏水 性涂层被认为是理想的防冰材料。
淮[1]等人通过将纳米级改性石墨烯嵌入弹性体的方案来模仿荷叶的超疏水特性,将改性石墨烯部分嵌入弹性体的方法制备新型涂层,对涂层进行结冰、除冰测试验证涂层主、被动防冰的双重性能。
图1. 可拉伸超疏水样品制备流程
制备可拉伸超疏水样品的示意图如图1所示。首先,在基底材料上制备厚度为2 mm的聚二甲基硅氧烷膜(如图1(a)所示)。制备完毕后,利用喷枪将石墨烯粉末喷涂在Ecoflex薄膜上,如图1(b)所示。由于重力的作用,在Ecoflex薄膜上的石 墨烯粉末往往会部分嵌入到Ecoflex薄膜中(如图1(c)所示)。最后,将涂层在室温下静置 24 h后待Ecoflex膜完全固化,即可得到可拉伸超疏水样品(如图1(d)所示)。
图2. 不同应变比下疏水性能水滴在石墨烯复合材料上的应变分别为
我们的日常生活中,变形是不可避免的,因为物体不可避免地受到力的作用。特别是,机翼在气流作用下产生变形。在本文中样品即使在大变形下也保持超疏水性。不同应变比下 疏水性能,如同样2所示,从图2(a)~图 2(d)可以看出:随着应变的增加,水滴几乎保持圆形;从图2(e)可以看出:随着应变的增加,水的浸润角(CA)逐渐变低,滚动角(RA)逐渐变大。然而,在300% 的应变下,接触角仍然高于150°,而RAs仍然低于10°,这表明具有优异的超疏水性。进一步研究了样品在循环拉伸下的稳定性,如图2(f)所 示 ,即使在100%拉伸1000次后,样品仍保持超疏水性。
图3. 模拟老化后疏水性能
除了潜在的机械损伤,超疏水材料在工程实践中不可避免地会遇到腐蚀性液体的侵蚀。在本研究中测试了超疏水样品的化学耐磨性。使用六种液体,分别是3. 5%的氯化钠水溶液,其酸碱度调节至1、4、7、10和14。该试验通过首先将样品浸入液体中24 h,然后用水冲洗。模拟老化后疏水性能,即表面润湿性测量结果如图3(c)所示,可以看出:水接触角均高于150°,滚动角均小于10°,显示出极好的耐磨性。为了进一步证明广泛的适用性,测试可拉伸超疏水样品的热稳定性。样品在200℃下加热,表面润湿性和加热时间之间的关系如图3(d)所示。接触角和滚动角的值表明热处理并没有改变超疏水性。因此,这种超疏水样品具有在高温环境中使用的潜力。
参考文献:
[1]淮继茹,王鹏,杨梦宇.具有可拉伸性的石墨烯半导体超疏水涂层[J/OL].航空工程进展:1-9[2024-03-11].
全部评论(0条)
推荐阅读
-
- 应用 | 关于可拉伸性的石墨烯半导体超疏水涂层的研究
- 机翼是飞机的重要组成部分,但在低温环境下表面很容易受到积冰的影响。超疏水性涂层是理想的防冰材料,超疏水性材料可以推迟冰晶的形成或降低冰粘附强度,但现有涂层存在机械性能差、性能参数自然衰老快等问题。
-
- 第六届深圳国际半导体技术暨应用展览会
- 第六届深圳国际半导体技术暨应用展览会
-
- 珀金埃尔默公司与中科院上海硅酸盐研究所材料谱学组分表征与应用课题组共建“半导体材料质谱分析联合实验室”
- 珀金埃尔默公司与中科院上海硅酸盐研究所材料谱学组分表征与应用课题组共建“半导体材料质谱分析联合实验室”
-
- 人物专访 | 北京邮电大学刘玉敏老师,畅谈半导体微纳结构
- 刘老师研究方向为半导体纳米光电子学领域,此次采访对微纳加工等技术进行了分享
-
- 邀请函 | TESCAN与您相聚深圳国际半导体展一起慧创未来
- 我在TESCAN展台(10T060,10号馆)准备了TESCAN半导体封装检测失效分析解决方案,期待与您分享。
-
- 0.1μm粒子计数器如何高效监测超净半导体环境污染物
- 0.1μm粒子计数器如何高效监测超净半导体环境污染物
-
- 聚焦功率半导体测试 | 普赛斯仪表多款测试新品亮相中国光谷九峰山论坛
- 普赛斯仪表以核心源表为基础,聚焦功率半导体测试领域,全面展示了其全系列半导体测试测量设备及测试解决方案。
-
- 热点应用丨半导体硅片应变的拉曼成像
- 半导体对于现代电子工业来说至关重要。在制造半导体器件时,必须严格把控半导体组成材料中的缺陷量。
-
- 晶诺微亮相慕尼黑光博会,为半导体工艺提供国产先进量检测设备
- 为半导体产业发展注入新的活力
-
- @2024慕尼黑上海光博会 | 半导体量检测
- 膜厚量测、缺陷检测是确保半导体制造良率的重要手段。
①本文由医疗器械网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表医疗器械网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:医疗器械网"的所有作品,版权均属于医疗器械网,转载时须经本网同意,并请注明医疗器械网(www.120med.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
最新话题
最新文章
- 长光辰英完成数千万A轮融资,建立国际水平的生命科学光学工具平台
- 高考必胜 丨 且踏浪起航,乘梦越山海
- 应用 | 影响喷墨打印质量的重要参数 - 润湿性
- 基理动态|贺“2024年大型仪器设备开放共享工作创新培训班”及“2024年河北省高等学校实验室安全培训会”成功举办!
- 前沿应用|低场核磁共振技术在油泥含油率检测中的应用
- 拼手速 | “破卷出新”FBIF2024食品创新展,免费赠票!
- 收藏!超全的水凝胶3D细胞培养全流程干货,一看就懂~
- Need | “你的”科研产品需求,我们来满足!(内含福利)
- 探微知著:微塑料多维检测技术的发展与应用
- 《REMOTE SENS ENVIRON》--基于S185高光谱数据消除冠层光谱土壤背景影响实现叶片叶绿素含量监测
作者榜
参与评论
登录后参与评论