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CTI华测检测诚邀您出席半导体高功耗芯片测试能力宣讲会

来源:北京华测试验仪器有限公司      分类:新品 2023-12-06 15:19:11 93阅读次数

伴随着国内科技的不断发展,我们对芯片功能的要求也在不断的提高,芯片内部的晶体管也越来越多,功耗越来越高,本次华测半导体芯片研讨会主要针对大功耗AECQ项目及失效分析和硬件测试方面和各位来宾进行深入探讨。在此,我们诚邀您出席,衷心感谢您的支持与指导。


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讲师介绍


郑宜明 Jacky

专精于动态失效分析、失效分析、静电防护能力测试、可靠性实验等验证领域,拥有二十多年验证与实验室建置管理经验及二十五半导体产业经验

陈志荣 Phil Chen

半导体从业26年
专长: 半导体制程研发/材料分析/失效分析/产品良率提升

黄智伟 Howard

  • 近20年 电子产品/芯片半导体可靠性验证分析技术工程工作

  • 多家终端车厂及Tier one 供货商 AEC-Q 系列课程讲师

  • 多家国内3rd Party 及OSAT可靠性测试实验室管理管理工作


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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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