近日，国务院常务会议审议通过《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》，这将有力促进投资和消费。为加快构建新发展格局、推动国民经济高质量发展，工业、农业、教育、医疗等多个领域，都迅速掀起了设备更新的浪潮。

  作为原子力显微镜的创新者和引领者，Park Systems 将积极响应此项国家利好政策，为Park客户提供优质高效便捷的设备更新服务。Park Systems始终以“创新 高能 卓越 ”为企业理念，致力于帮助客户追求前沿的发现和创新，确保Park Systems的原子力显微镜始终走在研究事业的前沿。我们坚定承诺不断满足客户的需求，为他们提供满意的原子力显微镜使用体验。

  此次大规模设备更新和旧换新活动，Park 精心为大家准备了设备更新换购单，快来看一看吧~

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Park FX40

专为高效率的原子力显微镜使用和

专为高效率的原子力显微镜使用而设计

- 基于人工智能的自动化:是一款能够自动化设置和扫描的原子力显微镜

- 提供早期警告系统和故障保护，以保护正在研究中的样品

- 配备环境传感器，便于对温度和湿度进行精准控制，以实现定制设置

  Park FX40改变了传统原子力显微镜的操作流程，通过突破性的自主性和前沿技术， 将用户的利益置于首位。它集成了智能和自动化技术，能够自动执行设置和扫描任务， 使研究人员摆脱繁琐的手动操作。这包括探针识别、准直激光、样品定位和成像优化。这使用户能够更专注于他们的研究工作。借助于优秀的机电性能、降噪技术和多样品 成像功能，FX40简化了数据收集、研究工作和数据发布流程，从而加速了科学的探索 发现和创新进步。

Park NX20

介质和基底的表面测量

- NX20可测量200 mm晶圆的全部区域，无需手动晶圆即可跑满整个200 mm晶圆片

- 具有缺陷检测成像和分析功能

- 具备高分辨率电扫描模式

- 用于进行3D结构研究的侧壁测量

  Park NX20是故障分析和半导体计量的理想解决方案。它提供准确、精准和可重复的 测量，采用非接触模式以保持针尖的锐度，实现快速缺陷成像，并使用解耦的XY扫描 系统进行3D测量。低噪声的Z探测器确保在高速扫描期间获得精准的形貌测量，避免错误。Park NX20具备表面粗糙度测量、缺陷检测成像、高分辨率电子扫描和侧壁测 量功能，适用于解决复杂的半导体挑战和大样品研究.

Park NX-IR

用于化学分析和材料成像的

纳米级红外光谱系统

  Park NX-IR 有效融合了崭新的红外光谱技术、Molecular Vista 的光诱导力显微镜（PiFM)以及行业前沿的 Park AFM 技术。PiFM 红外光谱采用非接触式检测技术，在空间分辨率、测量可靠性和样品安全性方面皆优于现有的光谱技术，包括轻敲PTIR(光热诱导共振）。Park NX-IR 中的 PiFM不仅能够进行高分辨率红外光谱分析，还能进行高质量的红外吸收材料成像，以进行准确的化学成分测量。高分辨率红外光谱与传统的FTIR(傅里叶变换红外）光谱保持着密切的相关性。此外，Park NX-IR 还可以通过检测技术、直接驱动和边带双峰检测的变化提供不同深度的有价值的材料信息。

Park NX10

高精准度和高分辨率成像， 

拥有业界领跑级的低噪音水平

- 灵活的开放式访问，可根据特定需求进行定制，并配备一系列附件

- 全面的扫描探针显微镜（SPM）模式及兼容选项和升级

- 支持在液体环境中使用扫描离子导电模块(SICM)，适用于细胞生物学和分析化学

  Park NX10 是科学研究和工程创新领域备受信赖的主力原子力显微镜。凭借其可靠 的精准度和用户友好的操作界面，科学家和工程师能够以高纳米分辨率获取可靠的 数据。Park NX10 提供多种测量模式和附件，使用户能够轻松为其个性的项目定制设置。

Park NX-Hivac

用于故障分析和对大气敏感材料研究

的高真空原子力显微镜

  在高真空条件下进行纳米尺度的电学测量，特别是用于前沿半导体故障分析的SSRM和SCM. 具备自动真空抽气和通风的高度可用性。 

  Park NX-Hivac 是专为半导体故障分析和对大气敏感材料研究而设计的高真空 AFM。其在高真空环境中运行，确保更高的准确性和重复性，大大减少针尖和样品的损坏。该系统在多个应用中发挥关键作用，其中包括使用扫描扩散电阻显微镜 (SSRM) 评估掺杂剂浓度。借助Park Systems直观的Hivac管理器和自动真空控制，Park NX-Hivac 简化了真空过程，提供快速的真空条件。因此，Park NX-Hivac可在无氧真空环境中提供高精度的研究。

Park Accurion EP4

成像椭偏仪

  EP4是新一代的成像椭偏仪，它有机地结合了传统光谱椭偏仪和光学显微镜技术。这使得我们能够在小至1μm的微结构上以椭偏仪的灵敏度表征薄膜厚度和折射率。显微镜部分能够同时测量光学系统全视场范围内的所有结构。传统的椭偏仪注重于测量整个光斑，而不能实现高精度的横向分辨率，并且需要逐点测量。

  EP4的显微镜功能使得我们能够获得微观结构的椭偏增强对比图像。在相机的实时图像中可以看到折射率或厚度的微小变化。允许识别椭偏测量的感兴趣区域（选区测量），以获得厚度（0.1 nm-10μm）和折射率的值。单次测量就可以获取厚度和折射率横向变化的3D图。

  各种联用技术，例如原子力显微镜（AFM）、石英晶体微天平（QCM-D）、反射式测量仪、拉曼光谱仪等等，可以对同一区域进行原位分析。另有在各种受控温度和气氛环境下测量的附件可选。

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