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直播 | 探索前沿半导体器件的PFIB自动化大面积逐层剥离和原位纳米探针技术

来源:泰思肯贸易(上海)有限公司      分类:政策 2024-05-29 09:30:14 202阅读次数

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TESCAN 半导体

探索前沿半导体器件的PFIB自动化大面积逐层剥离和原位纳米探针技术

Lukas Hladik |TESCAN集团 产品市场经理

2024年6月12日(周三)下午3:00



这是一场TESCAN集团和Imina Technologies 共同举办的网络研讨会,将深入探讨自动化大面积PFIB逐层剥离原位纳米探针检测的创新方法,为14nm技术节点的半导体失效分析和质量控制提供解决方案。

我们诚邀您参加2024年6月12日的网络研讨会





内容预告


集成电路逐层剥离的挑战

理解半导体缩小到亚 14 nm 技术节点的复杂性及其对失效分析和质量控制的影响。


先进的逐层剥离技术

探索TESCAN的新进展,包括低角度抛光和“钻孔喷嘴”技术,允许均匀移除金属层和大面积剥离,面积高达 300x300 μm2。


应用演示

深入了解 7 nm 和 5 nm 器件的实际逐层剥离过程,从M14(第14金属层)开始一直到晶体管接触层,全部在一个先进的仪器内完成。


自动化终点检测能力

了解在逐层剥离过程中,自动检测所选层的精确终点的流程。


完整的纳米探针检测工作流程

体验与 IMINA Technologies 的纳米探针平台的一体化集成,展示在 TESCAN CLARA 上搭载了四个miBots?探针的无缝工作流程,提升电镜的电路测试能力。



想要深入了解半导体技术的各个方面,请访问我们的半导体中文网站:

zh.info.tescan.com/semicon


现场互动 专家指导

本次会议主持人:

Lukas Hladik
FIB-SEM技术方面的著名专家

Guillaume Boetsch
Imina Technologies 的联合创始人

两位都在显微镜精密机器人领域拥有多年的专业知识。

加入我们,成为塑造纳米技术未来的一份子吧!


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我们期待您的参与!





TESCAN


成立于1991年,是一家专注于微观形貌、结构和成分分析的科学仪器的跨国公司,是全球知名的电子显微仪器制造商,总部位于全球最大的电镜制造基地-捷克布尔诺,产品主要有电子显微镜、聚焦离子束、X射线显微CT、电镜和拉曼、双束电镜和二次离子质谱的一体化联用系统及相关附件和软件,正被广泛应用于材料科学、生命科学、地球科学、半导体和电子器件等领域中。



IMINA Technologies


Imina Technologies SA 是一家瑞士制造商,专注于为光学显微镜和扫描电子显微镜下的样品表征提供机器人解决方案。其尖端产品和高质量服务使公司在半导体测试设备市场中,特别是在纳米探测和电学失效分析领域,成为领导者之一。



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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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