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METER研讨会预告 ‖ 专家带您了解叶面积指数:理论、方法与应用

来源:北京力高泰科技有限公司      分类:产品评测 2024-02-26 10:00:10 63阅读次数
植物生理学专家Jeff Ritter解读叶面积指数的实际应用,以及如何将这些应用结合到生产实践中去。


~~ 研讨会详情 ~~ 

题目The Expert Guide to Leaf Area Index: Theory, Methods, and Application

主讲人Jeff Ritter,Product Manager,METER Group

主办方METER Group 

日期和时间2024年2月28日(星期三)上午 1:00-2:00 (北京时间)

平台 Go to Webinar

可预约回放


叶面积指数(LAI)在很多方面有着广泛的应用,包括:土地管理、生态学以及与GPP(总初级生产力)相关的许多方面。然而LAI的测量方法众多,如何选择最佳的,或者最适合的方法就成为一个需要考虑的问题。选择中,如何权衡精确性和工作强度呢?来加入2024年2月28日的线上研讨会,一探究竟吧。

这次研讨会将讨论如下话题:


  • 什么是叶面积指数LAI
  • 为什么要测量LAI

  • 直接取样法,包括落叶收集法

  • 基于地面的间接方法,包括半球成像法

  • 透射与反射对比法

  • 卫星遥感方法

  • 方法的选择,如何权衡精确性与工作强度






 ~~ 主讲嘉宾 ~~ 


Jeff Ritter

Jeff Ritter是METER Group的产品经理,负责植物、冠层及大气监测产品。他曾获华盛顿州立大学植物生理学硕士学位,研究方向是叶片表面气体交换,以及植物生物化学对全球碳循环测量的影响。Jeff Ritter还曾在华盛顿州立大学作物和土壤科学系担任研究教职。



 ~~ 如何参加 ~~ 


您可以点击阅读原文,直接报名。


考虑到研讨会时间对中国地区不是很方便,我们会在研讨会结束后一段时间为您提供带中文字幕的研讨会回放请添加力高泰在线咨询微信获取相关信息。



添加咨询微信获取:会议报名链接、回放链接、问题咨询等。



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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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