应力双折射测量系统 - Hinds Instruments
美国Hinds Instruments研发基于PEM光弹调制原理的Exicor高精度应力双折射测量系统、 MicroImager应力测量显微镜、穆勒矩阵测量仪、偏振测量仪、各向异性测量仪、消光比测量仪、PEM光弹调制器、锁相放大器等。
应用：
光学晶体，聚合物膜的快轴角度，由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力；某些透明材料的内部应力，如光学晶体、玻璃等；液晶显示屏、晶体、胶片等材料的双折射分布。
软件界面：
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