NS-90 Plus丨纳米粒度分析仪
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NS-90 Plus纳米粒度分析仪是珠海有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后，在上一代NS-90的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90 Plus具有更优越的粒度分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度的测试需求。
NS-90 Plus纳米粒度分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90 Plus融合马尔文帕纳科技术升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。
与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-90 Plus支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。
粒径
测量范围*：0.3nm - 10μm (取决于样品)
测量原理：动态光散射法(DLS)
重复性误差：≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)
最小样品容积*：20μL
最小样品浓度：≤ 1mg/mL (取决于样品)
最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)
最小子测试时间：1.68s
分子量
分子量测量范围：
980 - 2×107 Da (取决于样品)，静态光散射德拜法
342 - 2×107 Da (取决于样品)， 动态光散射计算
系统参数
激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。
整机激光安全：I类
检测角度： 90°
检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE>80%@632.8nm
相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围
冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)
温度控制范围：0 - 120 ℃
温度控制最高精度：± 0.1 ℃
具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能
*可选微毛细管样品池扩展粒度分析上限至15μm的样品，最小样品量仅需3μL.
方式1：
拨打售前热线：400-902-5338、18675639766
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方式2：
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