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助力《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》

来源:武汉东隆科技有限公司      分类:动态 2024-03-22 10:00:09 91阅读次数

01


时间分辨共聚焦显微光谱联用系统

FluoTime300+MicroTime100


应用举例:

  • 荧光寿命成像(FLIM)、磷光寿命成像(PLIM)

  • 时间分辨光致发光 (TRPL) 成像

  • MicroPL测量(与PL光谱仪耦合)

  • 反聚束相关(g(2))测量

  • 载流子扩散成像

  • SHG和2PE成像

测试举例:

02


单光子计数共聚焦显微镜

Luminosa


主要应用:

  • 单分子水平的动态结构生物学

  • 相分离驱动的细胞机制

  • 环境传感

  • 细胞膜动力学和结构的映射

核心方法:

  • 荧光寿命成像 (FLIM)

  • FLIM-FRET – 基于寿命的 F?rster 共振能量转移

  • smFRET – 单分子 F?rster 共振能量转移

  • 荧光相关光谱 (FCS)

  • 荧光寿命相关光谱 (FLCS)

  • 荧光互相关光谱 (FCCS)

  • 各向异性成像

测试举例:

03


单分子时间分辨共聚焦荧光显微系统

MicroTime 200


主要应用:

  • 单分子光谱/检测

  • 时间分辨荧光

  • 荧光寿命成像(FLIM)

  • 磷光寿命成像(PLIM)

  • 荧光相关光谱(FCS)、荧光寿命相关光谱(FLCS)

  • 荧光共振能量转移(FRET)

  • 双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)、扫描FCS(sFCS)

  • 脉冲交替激发(PIE)

  • 荧光各向异性(偏振)

  • 模式匹配分析

  • 时间分辨光致发光(TRPL)、TRPL 成像

  • 反聚束效应

测试举例:

04


高分辨光学链路诊断仪OCI


主要应用:

  • 光器件、光模块测量

  • 光纤长度精确测量

  • 硅光芯片测量

  • 光谱、群延时测量

测试举例:

05


晶圆/芯片封测系统


主要产品系列:

  • WIT-220晶圆光电测试探针台

  • CA-1000 硅光芯片自动耦合测试系统

  • WAT-226高功率晶圆测试系统

  • WI-6500 自动晶圆缺陷检测系统

武汉有限公司助力《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》,如果您有任何产品相关的问题,欢迎随时来电垂询,我们将为您提供专业的技术支持与产品服务。

武汉有限公司创立于1997年。产品涵盖科研及工业应用的各个环节,主要涉及光谱影像、激光光束诊断、气体传感、单光子计数、光链路测量、超快超强激光系统六大光学应用领域。
成立至今,秉持“服务创造未来”的宗旨,为客户提供迅捷、高品质的服务,倍受广大客户的信赖。在多年技术积累的同时,聚集了一批光学、电学的技术人才,能够针对客户需求提供优质的产品及专业的解决方案。先后同欧美日多家厂商建立了全面深入的合作,并联合成立了开发、应用、服务技术中心。
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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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