医疗器械网(120med.com)欢迎您!

| 登录 注册
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品库- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-直播- 视频-课程

资讯中心

当前位置:医疗器械网> 资讯中心>【诚挚邀请】优尼康与您相约SEMICON CHINA

【诚挚邀请】优尼康与您相约SEMICON CHINA

来源:优尼康科技有限公司      分类:促销 2024-03-07 17:45:08 55阅读次数

2024 SEMICON CHINA 与慕尼黑上海光博会将同期在上海新国际博览中心举办,将携带多台设备参加此次盛会。您可以扫描文章下方二维码,提前进行在线预约报名。期待和您现场相遇,我们现场准备了诸多精美小礼品等你来领取。



SEMICON CHINA

展位号:N1馆1671



慕尼黑上海光博会

展位号:W4馆4168


展馆平面图

SEMI展会预约

慕尼黑展会预约

可扫描上方二维码预约参观

期待您的到来!!

部分参展设备

Filmetrics F50膜厚测量仪

F50可以非常简单地获得最大直径450毫米的样品薄膜厚度分布图。采用r-θ 极坐标移动平台,可以快速定位所需的测试点并且实时获得测试厚度,大约2点/秒。

相关应用:半导体制造(光刻胶、氧化物/氮化物/SOI、晶圆背面研磨);LCD 液晶显示器(聚酰亚胺、ITO 透明导电膜);光学镀膜(硬涂层、抗反射层);MEMS 微机电系统(光刻胶、硅系膜层)。


Bowman XRF镀层测厚仪

在高度不超过9英寸的工件上具有优于同类产品的 12 x12英寸可测量区域。自动多准直器允许选择光斑尺寸,以适应各种特征尺寸;可变焦摄像头允许在 0.25 英寸到3.5 英寸的焦距范围内进行测量。


相关应用:材料折射率消光系数测试;硅片自然氧化层厚度测试;光刻胶光学常数测试;半导体后段封装硅上金属厚度测量


Lumina AT2缺陷检测仪

薄膜缺陷检测仪实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。


相关应用:所有缺陷类型;薄厚基板;透明和不透明基板;电介质涂层;金属涂层;键合硅片;开发和在线生产


更多机型现场等您体验。。。




我们深耕薄膜测量行业十多年,不论您在薄膜测量方面有什么问题,我们的技术专家都可以为您提供有价值的建议或解决方案。欢迎来电,我们很高兴与您讨论您的应用问题。



产品展示


咨询电话:   400-186-8882

电子邮箱:   info@unicorn-tech.com

科技有限公司

翌颖科技(上海)有限公司

感谢阅读

更多专题

1

SiC半导体中膜厚测量解决方案

2

KLA探针式台阶仪的原理及应用

3

环境的稳定性对高分辨率测量的重要性

微信公众号

长按识别二维码关注我们,了解更多膜厚及表面轮廓测量相关知识



参与评论

全部评论(0条)

获取验证码
我已经阅读并接受《医疗器械网服务协议》

推荐阅读

版权与免责声明

①本文由医疗器械网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表医疗器械网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。

②凡本网注明"来源:医疗器械网"的所有作品,版权均属于医疗器械网,转载时须经本网同意,并请注明医疗器械网(www.120med.com)。

③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。

④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi

关于作者

作者简介:[详细]
最近更新:2023-09-18 16:20:36
关注 私信
更多

最新话题

最新资讯

作者榜