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网络研讨会丨文化遗产中非无限厚样品的分析讨论

来源:布鲁克纳米分析部      分类:商机 2023-11-28 17:46:48 65阅读次数


通常,定量分析要求样品在分析体积内具有均匀的组成,但是文化遗产中许多样品并不符合这一标准。这是否意味着它们无法被定量呢?其实并不是这样,对非均匀或非无限厚样品进行定量分析需要更多的样品信息和特定的定量方法,只是没有那么直接,正如之前的网络研讨会中所讨论的那样。

 

非无限厚度样品的常见例子包括金箔(图1)或手稿上的墨水。在本次网络研讨会中,我们旨在提出潜在的定量分析方法,讨论其可实践性和局限性。对于这类应用,X射线荧光(XRF)被证明是一种有价值的方法,因为它提供的信息不仅限于表面,甚至延伸至底层材料。这一特性使XRF成为镀层材料厚度的理想工具。在艺术考古中,尽管实现这一目的往往没那么直接,但是仍然能够提供给用户许多有用的信息。

1M6 JETSTREAM测试镀金样品获得的可见光图像(VIS)和Au-La分布图。由于镀金属于非无限厚样品,所以当叶子有皱折或重叠时,金元素的强度会增加(对应右图中亮区)。



会议时间

2023年12月5日,下午5:00


报名入口






主讲人


Michele Gironda

Head of Global Segment Management, Bruker Nano Analytics


Dr. Roald Tagle

Global Manager Application Science XMP, Bruker Nano Analytics



Mareike Gerken M.A.

Application Scientist XMP, Bruker Nano Analytics 

 

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布鲁克的电子显微镜分析仪包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微区XRF,它们为目前可用的材料提供了最全面的成分和结构分析。同时提供微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)以及用于微量元素分析的台式全反射X射线荧光光谱仪 (TXRF)。


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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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