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直播 | 精细制样,雷利表征:TESCAN 高电流 PFIB-SEM 技术

来源:泰思肯贸易(上海)有限公司      分类:政策 2024-05-24 10:45:12 54阅读次数

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TESCAN 材料科学 双束电镜

精细无伪影制样,雷利高通量表征:
高电流等离子 FIB-SEM 技术

Martin Sláma 

TESCAN 集团,产品市场经理 

2024年6月4日(周二)下午3:00

重启关于等离子 FIB-SEM 用于多模态材料表征的研讨会第二场来了。上一场主要聚焦表征质量相关技术,本场我们将探讨效率问题,如何做到又快又好。

会议设置现场问答环节。获取信息回看也可以,但及时答疑解惑,直接与专家对话,解决实际问题,想必是参加直播最有价值之处吧。期待您的参与!

主持在线会议的是 TESCAN 产品市场经理 Martin Sláma,材料表征技术专家。他拥有超过八年的材料和生命科学领域的专业知识,对 FIB-SEM 技术的复杂性有深刻的理解。




内容预告



材料去除效率

学习高电流离子束如何加快大型样本的制备速度。


增强表面抛光

发现大型表面积抛光技术,揭示材料结构复杂细节。


多尺度高阶分析

凭借 PFIB-SEM 技术,将微观和纳米表征联系起来。硬件设备、实验技术、以及软件工具揭示材料的多尺度特性。


创新技术

介绍 TESCAN 特有的“真正的截面切割术”(硅挡板技术) 和摇摆台技术,制作无伪影表面。——又快又好的制样秘诀所在。


3D断层成像技术进展

看看这些方法如何增强 3D FIB-SEM 断层成像,以更好地理解材料属性。




info.tescan.com/matsci-fib-sem


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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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