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网络研讨会 |SEM中材料表征技术高性价比的解决方案

来源:布鲁克纳米分析部      分类:招商 2024-01-12 16:30:04 73阅读次数


能谱 (EDS) 和电子背散射衍射 (EBSD) 组合是表征晶体材料微观结构的关键方法。这种组合方法使研究人员能够将元素成分和晶体变化关联起来,并识别或区分样品中的物相。

 

布鲁克的 QUANTAX ED-XS 是一款经济实惠紧凑的 EDS-EBSD 系统,旨在使学术研究和工业领域的入门级 SEM 用户能够借助 EDS 和 EBSD 技术的强大功能完成分析工作,同时优化其实验室资源。

 

为了实现这一目标,布鲁克集成了可以提供高计数量和轻元素检测功能的30 mm2 XFlash? 硅漂移探测器,以及最近开发的 e-Flash XS(经济紧凑的基于 CMOS 的 EBSD 探测器)。该解决方案提供EDS 和 EBSD 定性定量分析所需的全部功能,所有功能和数据分析都集成在 ESPRIT 软件下。

 

在本次网络研讨会中,我们将通过变形合金、陶瓷和矿物样品的几个应用示例来展示系统的高性能和便利性。

 

期待您的参与!


图1 增材制造不锈钢的塑性变形(取向差角为 0 至 22° 的晶粒平均取向差图)。 使用e-Flash XS EBSD 探测器

 


图2. 激光束扫描结晶的非晶Si薄膜的取向分布图(IPF Y 图)



会议时间

2024年2月1日,下午5:00


报名入口






主讲人


 Dr. Laurie Palasse

Global Application Manager, Bruker Nano Analytics




Dr. Meriem Ben Haj Slama

Applications Scientist EMA, Bruker Nano Analytics







关于

鲁克的电子显微镜分析仪包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微区XRF,它们为目前可用的材料提供了最全面的成分和结构分析。同时提供微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)以及用于微量元素分析的台式全反射X射线荧光光谱仪 (TXRF)。


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www.bruker.com

info.bna.cn@bruker.com




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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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