产品介绍

MadAFM?是一款新型的样品扫描原子力显微镜（AFM），设计用于简便使用和简单安装。MadAFM?包括我们行业领先的闭环纳米定位器，用于样品和探针的精密位移平台。Mad City Labs已经设计和制造了超过25年的压电闭环纳米定位器。由于我们的专有PicoQ?传感器，我们的纳米定位器提供了可用的最低噪声和最高分辨率。这些传感器以其超低噪声性能而闻名。我们的纳米定位器通过我们的高性能共振探针AFM展现出了卓越的运动解耦，几乎不可测量的平面外运动。除了XYZ纳米定位器外，MadAFM?还集成了我们的智能控制、高稳定性的电动微定位器。这些微定位器允许样品（XY）的长程运动、焦点控制和AFM头部（Z）的位移定位。焦点、AFM头部和探针定位器垂直对齐且同轴，可以直接通过1.6MP CMOS相机在样品表面和悬臂之间获得轴线视图。样品照明通过同轴白色LED进行，而635nm激光对准则通过相机辅助，手动操作。MadAFM?可容纳长宽高为50mm x 50mm x 40mm的样品。MadAFM?支持多种显微镜模式（请参阅规格表），并包括AFMView?-OD软件，用于处理所有硬件控制和数据采集。用户友好的软件具有自动校准和初始化功能，使即使是新手用户也能快速上手。该软件允许高级用户访问指定参数。MadAFM?与第三方分析软件MountainsSPIP?和Gwyddion兼容。MadAFM?尺寸适合桌面，并且安装简单，用户设置最小。MadAFM?需要额外配置振动和声学隔离平台。所有安装均可由用户自行完成。

特点

低噪声原子步进性能
经过校准的弯曲导向闭环纳米定位器
在扫描范围内平面外运动小于1纳米
专有的PicoQ?低噪声传感器
长行程、高稳定性的微定位
自动校准和初始化
自动软件和硬件设置
对经验丰富的用户可调参数
用户友好的探针更换
简单安装，桌上型设计
包括AFMView?软件 - 硬件控制和数据采集
图像分析软件选项

应用

原子力显微镜
相位显微镜
磁力显微镜
电力显微镜
横向力显微镜
扫描隧道显微镜
开尔文探针显微镜
电导原子力显微镜
电力显微镜
压电力显微镜
纳米光刻术
生物原子力显微镜

技术指标
MadAFM?运动控制
闭环纳米定位器	(X. Y) 30 um, 65 um or 100 um, (Z) 15 um or 30 um
Mechanism, (X,Y,Z)	Piezo, flexure guided,
位置传感器s (X,Y,,Z)	PicoQ
N纳米定位器步长(30 um 行程)	0.03 nm
定位噪声水平(30 um 行程)	2.7 picometers peak to peak
微动定位器行程	25 mm (X, Y, Focus), 50 mm (Z)
样品尺寸 (X,Y,Z)	50 mm X 50mm X 40mm
样品重量	Up to 500 grams
MadAFM? 光学组件
激光器	635 nm (Class II)
激光器准直	Manual
相机	1.6 MP CMOS
物镜焦距	85mm
样品照明	Coaxial white LED
MadAFM? 控制器
ADC 模数转换器	15 channels - (3) 24 bit for PicoQ sensors
DAC 数模转换器	11 channels, - (3) 20 bit for X,Y,Z nanopositioning
外部信号信号接口 (I/O)	14 channels,, 12 BNC ports (including 4 TTL), 2 on Microscope
锁相放大器	single channel, dual phase hybrid
纳米定位器接头	DB-50
微定位器接头	DB-37
LED 指示灯	Micropositioner / (XYZ) Focus / Laser on
软件	AFMView?-OD
微机接口	USB 2.0
模式*
成像模式	Contact AFM, Intermittent AFM, Non-Contact AFM, Constant Height AFM, Lateral Force Microscopy, Phase Microscopy
电子模式	Scanning Tunneling Microscopy, Conductive AFM, I-V Spectroscopy, Electrical Force Microscopy, Kelvin Probe Microscopy, Piezoelectric Force Microscopy
机械模式	Force Modulation Microscopy, Nanolithography
作用力测量	Force Distance Spectroscopy, Force Volume Imaging
磁力	Magnetic Force MIcroscopy
* 有些模式需要额外增加购置选项
附件
液体样品	Open Cell Kit / Closed Cell Kit
常规参数
MadAFM? 重量	37 lbs / (16.8 kg)
Microscope 尺寸	10" x 11.25" x 19" / (254 mm x 286 mm /483 mm)
控制器重量	9 lbs / (4.1 kg)
控制器尺寸	16.75" x 14" x 19: / (426 mm x 356 mm x 89 mm)
电源	12 VDC / (PN: MCLPS1001)
计算机需求 (不提供)
CPU 需求	3.1 GHz or equivalent
RAM 需求	4 Gbytes or more
PC 连接	1 x USB 2.0 and 1 x USB 3.0
操作系统	Windows 8.1/10/11 - 32 bit and 64 bit

实测样图

Image of 312 pm atomic steps on Si(111) substrate measured using MadAFM? 6515, in contact mode. Image size 2 um x 2 um

Image of 1.5 nm atomic steps on SiC substrate measured using MadAFM? 6515, in contact mode. Image size 2 um x 2 um

Calibration grid with 110nm feature height. Contact mode using MadAFM? 6515. Image size: 30 um x 30um

Topographic image of alternating Au and Al lines (35 nm height) using MadAFM? 6515. Image size: 10 um x 10um.

Kelvin mode, image of alternating Au and Al lines, 25 nm lift height using MadAFM? 6515. Image size 10 um x 10um.

Topographic image of alternating Au and Al lines (35 nm height) using MadAFM?6515. Image size 10 um x 10um.

Electric Force Microscopy image of alternating Au and Al lines (35 nm height) using MadAFM?6515 Gold lines are grounded while Al lines are 1.0V. Image size 10 um x 10um.

产品介绍

技术指标

MadAFM?运动控制

MadAFM? 光学组件

MadAFM? 控制器

模式*

附件

常规参数

计算机需求 (不提供)

实测样图

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