XD-1000 

高性价比上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。

典 型 应 用

 XTU-50B 

下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。

 XTU-4C 

下照式微聚焦多准型，搭载先进的EFP算法软件和微光聚集技术，配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低，仪器寿命更长，性能更稳定。

典 型 应 用

 XAU 

全面升级下照式探测器款，多模态人机交互，搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件，在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定。

典 型 应 用

     XTD-200        XTD（大行程）

全新上照式设计，微聚焦，搭载可编程自动位移平台，无人值守、自动检测多样品，且更加智能化，采用自主研发的AI影像识别功能可完成智能寻点，自动匹配测试。对各超大异形件及微小密集型多点的测试更加高效、智能。

典 型 应 用

 XU-100(ROHS) 

XU-100性价比多功能XRF是一款极具性价的RoHS(卤素)检测仪器，采用新一代X射线荧光光谱检测技术和数字多道脉冲信号处理器，结合先进的EFP软件，性能稳定可靠，实现更高的测试效率。对常规产品RoHS及部分产品的微区RoHS中的铅、汞、镉、铬、溴、氯、砷、钡、锑、硒等有害物质进行精检精测。

 XAU-4C/XAU-4CS(专精型) 

匠心打造的新一代设计，是一款独具科技感的一机多用型光谱仪，采用先进的EFP算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列，专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微RoHS检测及全元素分析，每一个功能都是最专业的。

典 型 应 用

     XAD-200          XAD（大行程）

全新上照式设计，保留原有四焦技术同时，搭载全自动大行程移动平台和影像识别功能，既能检测纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及全元素成分分析，无论是一个还是一批样测试都能实现精准、快速、高效。

典 型 应 用

 XAVU 

配备智能抽真空系统，高性能的屏蔽性能去除大气对低能元素的影响，对Na、Mg、Al、Si、P等轻元素镀层厚度及成分测试精度更高.测量C-U元素，Li-U的涂镀层。

 便捷型稀土检测分析仪 

●先进的解谱技术

● 独特的光路设计

● 排除元素相互干扰

可定制不同配置及车载，达到元素测量范围C（6）-Am（95）

 XAD-μ 

●  小至10μm的测量直径

●  高于普通光谱仪1000倍以上的聚焦光源

●  更低的检出限

●  更高的测试精度

●  更好的测试稳定性

国内首创、全球领先的多导毛细管技术，轻松应对超小测量点或极薄涂层的测量分析，在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势。

典 型 应 用

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