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祝贺第九届中国二次离子质谱会议圆满举办

来源:高德英特(北京)科技有限公司      分类:动态 2023-10-23 15:39:42 57阅读次数

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2023年10月11日至15日,第九届中国二次离子质谱会议在辽宁省沈阳市圆满举办,PHI CHINA在此表示热烈祝贺。
在这个充满创意与探索的盛会上,来自全球各地的科学家们齐聚一堂,汇聚了无数智慧的火花。他们用独特的视角和精湛的技术,揭示了二次离子质谱在科学领域的无限可能。

      这场盛会不仅仅是一个学术交流的平台,更是一次创意的碰撞和思想的碰撞。在会议期间,各位专家学者们分享了最新的研究成果和科技创新,探讨了二次离子质谱在环境科学、生命科学、材料科学等领域的广泛应用。


这次会议邀请了国内外知名专家进行主题演讲,分享他们在二次离子质谱领域的研究心得和经验。

会议主题包括:

1. 二次离子质谱前沿技术与数据方法;

2. 半导体/微电子分析技术;

3. 地质学微区分析和同位素分析;

4. 材料冶金微区分析、表面分析和3D分析;

5. 生命医学有机分析与质谱成像分析;

6. 能源环境微区和原位分析。


PHI CHINA与ULVAC- PHI受邀参与了本次会议,同时日本分析实验室的高级首席科学家Shinichi Iida做了题为“PHI’s Latest TOF-SIMS Instrument PHI nanoTOF3+ and its Applications”的报告,与诸位学者分享了ULVAC- PHI最新TOF-SIMS的进展。


Shinichi Iida报告


与会人员合影

飞行时间二次离子质谱(TOF SIMS)作为重要的的表面分析技术,可以对样品表面的元素组成和分子结构进行痕量定性分析,具有优异的检测灵敏度,以及极佳的质量分辨率和空间分辨率,是一种能够在微米-纳米级尺度上研究样品表面化学组成的分析利器,目前已经广泛应用于科学研究和工业生产中。

PHI nanoTOF3+

ULVAC-PHI公司是TOF SIMS技术的全球领先供应商之一,在仪器设备的研发和制造方面具有丰富的经验和专业知识。我们的TOF-SIMS具有高分辨率、高灵敏度和高速度的特点,广泛应用于材料科学、生命科学、电子工业等领域。通过海报展示及技术人员的现场讲解,与会者有机会认识到ULVAC-PHI公司的TOF-SIMS仪器,并了解其在不同领域的应用案例和技术优势

通过本次会议,我们希望能够促进TOF-SIMS技术的交流与合作,推动其在科学研究和工业应用中的进一步发展。我们相信,TOF-SIMS技术的广泛应用将为科学界带来更多的突破和创新,为社会的发展做出更大的贡献。

联系我们


010-62519668


sales@coretechint.com



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PHI 高德英特

表面分析技术领导者

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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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