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METER研讨会回放 ‖ 专家带您了解叶面积指数:理论、方法与应用 2024年2月28日

来源:北京力高泰科技有限公司      分类:政策 2024-04-22 15:15:05 8阅读次数

 ~~ 研讨会回放 ~~ 




叶面积指数(LAI)在很多方面有着广泛的应用,包括:土地管理、生态学以及与GPP(总初级生产力)相关的许多方面。然而LAI的测量方法众多,如何选择最佳的,或者最适合的方法就成为一个需要考虑的问题。选择中,如何权衡精确性和工作强度呢?植物生理学专家Jeff Ritter带您解读叶面积指数的实际应用,以及如何将这些应用结合到生产实践中去。

研讨会讨论内容包含如下话题:


  • 什么是叶面积指数LAI
  • 为什么要测量LAI

  • 直接取样法,包括落叶收集法

  • 基于地面的间接方法,包括半球成像法

  • 透射与反射对比法

  • 卫星遥感方法

  • 方法的选择,如何权衡精确性与工作强度




 ~~ 主讲嘉宾介绍 ~~ 


Jeff Ritter

Jeff Ritter是METER Group的产品经理,负责植物、冠层及大气监测产品。他曾获华盛顿州立大学植物生理学硕士学位,研究方向是叶片表面气体交换,以及植物生物化学对全球碳循环测量的影响。Jeff Ritter还曾在华盛顿州立大学作物和土壤科学系担任研究教职。

相关研究设备

AccuPAR 植物冠层分析仪

归一化植被指数(NDVI)测量仪

SQ-521 光合有效辐射传感器


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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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